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本发明公开了高温探针卡及用于组合式量热分析的量热装置，属于量热分析设备技术领域。该高温探针卡包括：检测机构，包括底板，底板上设有通孔，通孔外围设有凸台，底板的上端面及凸台的上端面设有设有多组凹槽，每个凹槽内均设置一条高温探针，量热芯片的每个...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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