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本申请涉及芯片生产技术领域，尤其涉及一种芯片老化测试装置；针对测试效率不高的问题，所采用的方案包括：底座、测试室；测试室包括主室体、活动底板；主室体与底座固定；主室体的内部空间由多组子空间组成；活动底板固设有多组电路板；待测芯片安装在电路板...
该专利属于深圳超盈智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳超盈智能科技有限公司授权不得商用。

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