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本公开涉及NOR型存储器件。该NOR型存储器件包括:沿竖直方向交替堆叠的至少两个源/漏接触层和至少一个隔离层;竖直延伸穿过所述源/漏接触层和所述隔离层的栅极结构;以及位于所述栅极结构外周的半导体层;其中,分别紧邻所述隔离层上方和下方的两个源...该专利属于兆易创新科技集团股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过兆易创新科技集团股份有限公司授权不得商用。
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本公开涉及NOR型存储器件。该NOR型存储器件包括:沿竖直方向交替堆叠的至少两个源/漏接触层和至少一个隔离层;竖直延伸穿过所述源/漏接触层和所述隔离层的栅极结构;以及位于所述栅极结构外周的半导体层;其中,分别紧邻所述隔离层上方和下方的两个源...