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本技术提供了一种用于芯片测试的继电器扩容电路。该继电器扩容电路包括多个继电器和扩容开关。扩容开关管的第一端耦接多个继电器的控制端，扩容开关管的第二端电连接地，扩容开关管的控制端接收芯片测试机发出的继电器控制信号。继电器控制信号具有第一逻辑状...
该专利属于晶艺半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶艺半导体有限公司授权不得商用。

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