【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，尤其是涉及一种继电器扩容电路。
技术介绍
1、在当前模拟半导体自动化测试中，需要采用芯片测试机(ate)，并搭建测试芯片对应的测试硬件电路，再将测试机和测试硬件连接，用于测试激励的输入和输出。
2、通常，将会用数量众多的电磁继电器来控制电路的通断或者测试激励的切换。常见的电磁继电器原理如图1所示，脚位0为控制管脚，脚位1为供电管脚，通常为+5v。当脚位0为低时，电流(通常为30ma)流过线圈产生磁场，继电器闭合，脚位2和3连通；当脚位0为高时，没有电流流过，继电器复位，脚位2和3断开。在芯片测试中，需要其他资源/设备控制电磁继电器脚位0的状态，从而使继电器切换或复位。在ate应用测试中，ate将提供继电器控制信号cbit来控制继电器脚位0，以实现控制继电器的功能。
3、如图2所示，通常继电器控制信号cbit由ate内部的继电器控制单元产生，但是继电器控制单元产生的下拉电流有一定局限性，通常仅为100ma，按照单个继电器30ma的需求，继电器控制信号cbit只能控制3个及以下的继电器，因此，在实...
【技术保护点】
1.一种用于芯片测试的继电器扩容电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的继电器扩容电路，其特征在于，耦接在所述扩容开关管第一端上继电器的数量由扩容开关管的第一端与第二端之间流过的最大导通电流决定。
3.根据权利要求1所述的继电器扩容电路，其特征在于，所述继电器还包括第一连接端和第二连接端，所述第一连接状态包括将继电器的第一连接端和继电器的第二连接端电连接，所述第二连接状态包括将继电器的第一连接端和继电器的第二连接端断开。
4.根据权利要求1所述的继电器扩容电路，其特征在于，所述继电器还包括第一连接端、第二连接端和第三连接端...
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的继电器扩容电路，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的继电器扩容电路，其特征在于，耦接在所述扩容开关管第一端上继电器的数量由扩容开关管的第一端与第二端之间流过的最大导通电流决定。
3.根据权利要求1所述的继电器扩容电路，其特征在于，所述继电器还包括第一连接端和第二连接端，所述第一连接状态包括将继电器的第一连接端和继电器的第二连接端电连接，所述第二连接状态包括将继电器的第一连接端和继电器的第二连接端断开。
4.根据权利要求1所述的继电器扩容电路，其特征在于，所述继电器还包括第一连接端、第二连...
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