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本发明公开了一种芯片生产测试阈值确定方法及系统，该方法包括：获取多项测试项目，对多项所述测试项目分别进行如下测试：工程测试阶段，获取若干个工程测试数据，并根据所述工程测试数据，确定初始量产阈值；量产测试阶段，实时获取待测芯片的量产测试数据，...
该专利属于英彼森半导体（珠海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过英彼森半导体（珠海）有限公司授权不得商用。

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