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本发明涉及光电测量领域，尤其涉及基于平面镜的快速非均匀校正装置及其校正方法，方法包括：S1、将红外制冷型探测器、大口径红外光电成像系统、平面镜依次摆放；S2、使平面镜的高发射率面朝向大口径红外光电成像系统，将高发射率面与环境温度相结合作为高...
该专利属于中国人民解放军92941部队所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军92941部队授权不得商用。

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