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一种结构化和非结构化数据建立集成电路良率预测模型，对结构化数据和非结构化数据分别处理，得到学习模型，并采用堆叠学习的方式得到堆叠学习框架，以及计算出各学习模型中影响最大变量的重要性，建立集成电路良率预测模型。增强良率预测的准确性，提高了模型...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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