温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种半导体装置。在利用ＩＣ测试仪确认熔丝的熔断情况时，由于只进行电测量，因此无法测量该熔断面之间的间隙。在因熔断布线时施加应力的偏差等因素导致熔断面间隙很小的情况下，存在熔断面因受到温度应力、复原力（回复至原来连接状态的力）等的作...
该专利属于三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。