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本发明涉及存储芯片技术领域，具体公开了一种编程校验方法、装置、存储芯片及电子设备，其中，编程校验方法包括步骤：在存储单元编程结束后，对存储单元的衬底端施加正向电压；基于编程校验电压对存储单元进行编程校验；该编程校验方法通过在编程结束和编程校...
该专利属于上海芯存天下电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯存天下电子科技有限公司授权不得商用。

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