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本申请涉及一种探测器、探测器晶体校正方法，探测器包括电荷调制模块、晶体和ASIC芯片，所述电荷调制模块与所述晶体连接，所述晶体与所述ASIC芯片连接；其中，所述电荷调制模块，用于将电荷输入至所述晶体，电荷能够与晶体的缺陷结合。通过探测器内的...
该专利属于上海联影医疗科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海联影医疗科技股份有限公司授权不得商用。

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