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本技术属于测量辅助结构技术领域，公开了一种辅助块以及结构光扫描测量装置，结构光扫描测量装置包括投影装置、多个光栅件、多个相机和多个辅助装置，辅助装置包括多个辅助块，多个辅助块周向间隔设置于待测工件的外周，投影装置射出的光线穿过光栅件投影到待...
该专利属于上海飞机制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海飞机制造有限公司授权不得商用。

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