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本技术公开了一种半导体集成电路通用测试探针座，其特征在于，包括测试架(1)，支撑脚(9)，测试夹板(2)，针式测试引导装置，以及对称设置在测试架(1)的两端上的两根驱动杆(6)。本技术通过设置的多个可伸缩的针式测试引导装置，能在无需人工引出...
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