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本发明实施例提供了待测设计的验证方法及装置，方法包括：将待测数据输入DUT，获取DUT在多个目标检测点的第一输出结果；每一目标检测点对应于DUT中的一个待测子设计，待测子设计是基于DUT的寄存器转换基级RTL描述，根据数据流在DUT内的特定...
该专利属于格创通信（浙江）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格创通信（浙江）有限公司授权不得商用。

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