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一种半导体记忆卡的测试装置包括一基座及至少一盖板。基座包括一上板、一下板、及一电路板插槽，电路板插槽形成于上板与下板之间；上板形成至少一卡勾孔。每一盖板的一侧能转动地连接于基座，每一盖板具有一板体、一卡勾、至少一压块、及至少一弹性组件，板体...
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