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本发明方法数学形态学低帽变换分离出结构与缺陷类似的像素点，再通过对分离后的图像的灰度直方图的分析和判断，确定阈值个数。最后采用OTSU阈值分割算法和数学形态学的开闭运算提取出缺陷，具体包括：对原图像作预处理；对预处理后的图像作形态学低帽变换...
该专利属于中国人民解放军火箭军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军火箭军工程大学授权不得商用。

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