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半导体结构及其制备方法技术
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文档序号:40193703
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本公开实施例提供一种半导体结构的制备方法,包括:提供基底;在基底中形成第一掺杂区及第二掺杂区;在基底上形成第一栅极及第二栅极,第一栅极与第一掺杂区交叠,第二栅极与第二掺杂区交叠,且第一栅极沿第一方向延伸,第二栅极沿第二方向延伸,第一方向与第...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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