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本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种芯片测试载具，包括：载具板，所述载具板的上端开设有若干组放置异形孔，所述放置异形孔的内部安装有芯片本体；所述载具板的两侧均设置有卡合部件一，所述载具板的内部还设置有上卡合部件，所述载具板的内部还设置...
该专利属于法特迪精密科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过法特迪精密科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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