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本公开的实施例涉及一种用于处理点云的方法、电子设备和计算机程序产品。该方法包括对目标对象的第一点云的第一特征进行上采样。该方法还包括确定参考对象的第二点云的参考特征。该方法还包括基于经上采样的第一特征和参考特征，确定第二特征。该方法还包括基...
该专利属于戴尔产品有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过戴尔产品有限公司授权不得商用。

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