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本发明公开了窄线宽光源OFDR系统相干衰落抑制效果评估方法，包括：对窄线宽光源进行参数调控，仿真激光器携带的本征相位噪声；对相干衰落噪声的抑制方法进行参数调控，定量控制抑制方法的实现效果；一维光纤OFDR系统建模，利用外差法，对后向散射光与...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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