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一种失效芯片筛选方法及装置及系统、可读存储介质、终端，所述方法包括：获取一个或多个寄存器测试程序，每个寄存器测试程序包含待测试芯片的至少一个功能模块的运行程序；依照预设顺序运行各个寄存器测试程序，向对应的功能模块的寄存器进行写入操作，并输出...
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