失效芯片筛选方法及装置及系统、可读存储介质、终端制造方法及图纸

一种失效芯片筛选方法及装置及系统、可读存储介质、终端，所述方法包括：获取一个或多个寄存器测试程序，每个寄存器测试程序包含待测试芯片的至少一个功能模块的运行程序；依照预设顺序运行各个寄存器测试程序，向对应的功能模块的寄存器进行写入操作，并输出所述功能模块运行后的测试结果；如果任意一个功能模块的所述测试结果与所述理论输出数据不一致，则确定所述芯片为失效芯片；其中，所述功能模块包括存储器，所述存储器的预设的理论输入数据和理论输出数据分别为预设的存储器写入数据和存储器读取数据。本发明专利技术可以在较广范围高效地确定芯片失效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种失效芯片筛选方法及装置及系统、可读存储介质、终端。

技术介绍

1、在芯片的生产过程中，由于工艺或者设计问题，会出现少量的失效芯片，若不能有效的将问题芯片筛选出来，流至客户端，后期会增大解决问题的难度，增加成本投入。

2、在现有的失效芯片筛选方法中，通常利用芯片的电学特性，例如根据预设的电学参数，得到符合的电学性能的芯片，筛选出失效芯片，然而这样的筛选方法耗时长成本高，且验证范围较小。

3、亟需一种失效芯片的筛选方法，可以在较广范围高效地确定芯片失效情况。

技术实现思路

1、本专利技术解决的技术问题是提供一种失效芯片筛选方法及装置及系统、可读存储介质、终端，可以提高测试效率，从而实现在较广范围高效地确定芯片失效情况。

2、为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种失效芯片筛选方法，包括：获取一个或多个寄存器测试程序，每个寄存器测试程序包含待测试芯片的至少一个功能模块的运行程序；依照预设顺序运行各个寄存器测试程序，向对应的功能模块的寄存本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种失效芯片筛选方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储器为DDR，所述存储器PHY为DDRPHY，所述DDR PHY的寄存器包含DDR阻抗控制校准ZQC控制器的寄存器和用于控制数据存储的DDR数据控制寄存器；

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述功能模块还包含GPU；

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述功能模块还包含CPU，所述CPU的寄存器包含CPU配置电压寄存器、CPU频率寄存器和用于数据存储的CPU数据寄存器，基于CPU的理论输入数据确定的寄存器写入信息包含多组信息；

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【技术特征摘要】

1.一种失效芯片筛选方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储器为ddr，所述存储器phy为ddrphy，所述ddr phy的寄存器包含ddr阻抗控制校准zqc控制器的寄存器和用于控制数据存储的ddr数据控制寄存器；

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述功能模块还包含gpu；

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述功能模块还包含cpu，所述cpu的寄存器包含cpu配置电压寄存器、cpu频率寄存器和用于数据存储的cpu数据寄存器，基于cpu的理论输入数据确定的寄存器写入信息包含多组信息；

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述cpu的数量为多个；

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述功能...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈思涛，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：发明
国别省市：