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本发明公开了一种芯片内串行数据溢出校验方法，涉及集成电路技术领域，包括：在芯片内移位寄存器的数据输出侧增加数据溢出监测电路，当产生串行数据传输过采样，串行数据的最后一帧进入移位寄存器时，使帧头数据产生数据溢出进入到数据溢出监测电路；数据溢出...
该专利属于成都观岩科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都观岩科技有限公司授权不得商用。

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