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本发明属于深孔检测领域，具体涉及一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪及其测量方法，包括支撑底座和测量仪本体，所述支撑底座用于设置待测工件，其一端向上延伸，且其延伸段上设置有推杆，所述推杆用于推动所述测量仪本体进入待测工件的深孔中；所述测量仪本...
该专利属于中北大学所有，仅供学习研究参考，未经过中北大学授权不得商用。

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