【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于深孔检测领域，具体涉及一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪及其测量方法。
技术介绍
1、随着当今制造业的蓬勃发展，对孔类零部件提出了更高精度的加工技术要求，因此对其检测精度的要求也随之提高。对于深孔来说检测难度很大，无论是精度要求或检测速度都有很大的挑战。对于深孔加工与检测领域急需更加精密的仪器，无论是保证产品的质量还是科技的进步，高精度检测始终是一个未来的发展趋势。
2、目前深孔检测越来越趋于集成式、高精度，高效率，工业上存在很多检测方式，包括接触式和非接触式，现有技术中的深孔检测具有以下缺点：
3、1、对于接触式深孔检测，一般只适用于单个几何量的测量，测量的速度慢，效率比较低，且由于需要与被检测面接触，会对测头造成磨损对被测面造成损伤，影响测量的精度，降低仪器寿命。
4、2、非接触式检测大多都是以光电技术为基础，常见的非接触式检测有工业内窥镜、激光-相机检测等方法。使用内窥镜检测主要适用于深孔内部形貌的直观检测如划痕、锈斑、表面粗糙程度等，无法对深孔直线度、内径、圆度、圆柱度等进行精确...
【技术保护点】
1.一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪，其特征在于，包括支撑底座（3）和测量仪本体，所述支撑底座（3）用于设置待测工件（7），所述支撑底座（3）一端向上延伸，且其延伸段上设置有推杆（1），所述推杆（1）用于推动所述测量仪本体进入待测工件（7）的深孔中；所述测量仪本体包括自定心机构和检测机构；
2.根据权利要求1所述的一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪，其特征在于，所述自定心机构还包括第一端盖（24）和第二端盖（11），所述内衬（5）的一端与所述第一端盖（24）固定连接，另一端与所述第二端盖（11）固定连接；
3.根据权利要求1所述的一种基于显微...
【技术特征摘要】
1.一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪，其特征在于，包括支撑底座（3）和测量仪本体，所述支撑底座（3）用于设置待测工件（7），所述支撑底座（3）一端向上延伸，且其延伸段上设置有推杆（1），所述推杆（1）用于推动所述测量仪本体进入待测工件（7）的深孔中；所述测量仪本体包括自定心机构和检测机构；
2.根据权利要求1所述的一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪，其特征在于，所述自定心机构还包括第一端盖（24）和第二端盖（11），所述内衬（5）的一端与所述第一端盖（24）固定连接，另一端与所述第二端盖（11）固定连接；
3.根据权利要求1所述的一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪，其特征在于，所述支撑底座（3）上固定设置有两个用于支撑待测工件（7）的v形块（6），所述内衬（5）底部固定设置有两个球式防转设备（23）；
4.根据权利要求1所述的一种基于显微镜的多几何量深孔测量仪，其特征在于，所述凸杆（32）的端部为半球状，所述圆锥台（31）为圆台状，所述支撑条（9）靠近深孔内壁的一面为弧面；所述推...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓文斌，沈兴全，于大国，赵杰，陈路生，郭林陇，李永杰，杜慧福，赵晓巍，王宇，贺雷，罗金山，
申请(专利权)人：中北大学，
类型：发明
国别省市：
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