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本发明是基于二维可编程振幅型衍射光栅的激光横模模式谱分析仪，实现基于波动光学中衍射中入射光模式与衍射光强度间存在的线性关系和传播不变性模式间的正交性；该系统通过使用数字微镜装置加载理论计算获得的衍射光栅对入射相干叠加态模式进行一一识别实现光...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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