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一种硅片swirl、striation和杂质管道缺陷的通用检测方法,包括以下步骤:步骤1:将硅片的测试样片放入碱腐蚀液中进行碱洗;步骤2:将碱洗后的测试样片放入酸腐蚀液中进行酸洗;步骤3:对酸洗后的测试样片进行高温热处理;步骤4:根据硅片的...该专利属于宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司授权不得商用。
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一种硅片swirl、striation和杂质管道缺陷的通用检测方法,包括以下步骤:步骤1:将硅片的测试样片放入碱腐蚀液中进行碱洗;步骤2:将碱洗后的测试样片放入酸腐蚀液中进行酸洗;步骤3:对酸洗后的测试样片进行高温热处理;步骤4:根据硅片的...