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本发明属于耐压性检测技术领域，具体的说是一种用于碳化硅芯片的耐压性检测装置，包括检测仪，所述检测仪内设有调压器，还包括：插接在所述检测仪上的测试棒；转动安装在所述检测仪上的第一按钮；开设在所述检测仪内的一号空腔；更替部，所述更替部包括转杆、...
该专利属于江苏东海半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏东海半导体股份有限公司授权不得商用。

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