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针对高电压半导体的自动化抗偏斜系统和方法技术方案
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文档序号:40108302
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一种用于确定两个测量探测器之间的时间偏斜量的系统包括第一探测器和第二探测器以及一个或多个处理器,所述一个或多个处理器被配置成:通过所述第一探测器来测量来自测试中设备(DUT)的电流信号;通过所述第二探测器来测量来自所述DUT的电压信号;根据...
该专利属于特克特朗尼克公司所有,仅供学习研究参考,未经过特克特朗尼克公司授权不得商用。
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