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半导体封装结构制造技术
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文档序号:40108215
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本发明公开一种半导体封装结构,包括:第一重分布层;第二重分布层,设置在所述第一重分布层上方;第一半导体晶粒和第二半导体晶粒,垂直堆叠在所述第一重分布层和所述第二重分布层之间,其中所述第一半导体晶粒电耦接到所述第一重分布层,并且所述第二半导体...
该专利属于联发科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联发科技股份有限公司授权不得商用。
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