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本发明涉及基于散射光的光子集成电路监控器、监控系统及监控方法，揭示一种光子集成电路(PIC)结构，其包括基于散射光的监控器，该监控器具有邻近波导芯的端部(也就是，耦合器)的一侧或两侧设置的光检测器(例如，PIN及/或雪崩光电二极管)，该端部...
该专利属于格芯（美国）集成电路科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格芯（美国）集成电路科技有限公司授权不得商用。

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