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本发明涉及一种基于半监督学习的TFT‑LCD液晶面板缺陷分割方法及系统，该方法包括如下步骤：步骤1、采集生产流程中TFT‑LCD液晶面板的良品图像和缺陷图像，进行缺陷标注，获得标签信息，形成样本集，并划分为训练集和验证集；步骤2、构建半监督...
该专利属于福州大学所有，仅供学习研究参考，未经过福州大学授权不得商用。

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