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本发明公开一种缺陷检测设备及其控制方法、电子设备、存储介质。缺陷检测设备包括：滑动平台，沿第一横向延伸；传输台，设置于滑动平台上并能够沿第一横向滑动，传输台沿第一横向能够滑动至传输位置和第一检测位置，传输台沿第二横向延伸，第二横向与第一横向...
该专利属于海目星激光科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海目星激光科技集团股份有限公司授权不得商用。

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