缺陷检测设备及其控制方法、电子设备、存储介质技术

技术编号:40082812 阅读:23 留言:0更新日期:2024-01-23 14:59
本发明专利技术公开一种缺陷检测设备及其控制方法、电子设备、存储介质。缺陷检测设备包括:滑动平台,沿第一横向延伸;传输台,设置于滑动平台上并能够沿第一横向滑动,传输台沿第一横向能够滑动至传输位置和第一检测位置,传输台沿第二横向延伸,第二横向与第一横向交叉;承接平台,用于承接基板,承接平台沿第二横向能够滑动至上料位置、第二检测位置、下料位置;光学检测组件,光学检测组件能够对基板上的器件和/或焊点进行缺陷检测,其中,传输台处于第一检测位置且承接平台处于第二检测位置,光学检测组件与承接平台位置对应且位于承接平台的上方。根据本发明专利技术实施例的缺陷检测设备,便于在生产线上实现基板上缺陷的自动化检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及基板检测领域,特别涉及一种缺陷检测设备及其控制方法、电子设备、存储介质


技术介绍

1、在印刷电路板的加工过程中,印刷电路板上可能存在缺陷。目前,可以通过光学检测技术检测印刷电路板上是否存在缺陷,以及获取缺陷位置。

2、现有技术中,需要人工将待检测的印刷电路板放置于光学检测装置进行缺陷检测,这就使得在印刷电路板的生产线上无法自动化检测印刷电路板的缺陷,容易打乱生产节拍。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种缺陷检测设备及其控制方法、电子设备、存储介质,便于在生产线上实现基板上缺陷的自动化检测。

2、第一方面,本专利技术实施例提供一种缺陷检测设备,缺陷检测设备包括:底座;滑动平台,与所述底座连接,并沿第一横向延伸;传输台,设置于所述滑动平台上并能够沿所述第一横向滑动,所述传输台沿所述第一横向能够滑动至传输位置和第一检测位置,所述传输台沿第二横向延伸,所述第二横向与所述第一横向交叉;承接平台,用于承接基板,所述承接平台设置于所述传输台上并能够沿所述第二横向滑动,所述承接平台沿本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷检测设备,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括:

3.如权利要求2所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括:

4.如权利要求3所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述修复组件包括第一修复功能件和第二修复功能件,所述第一修复功能件、所述第二修复功能件位于所述光学检测组件沿所述第二横向的相对两侧,所述第一修复功能件、所述第二修复功能件中的至少一者为焊接功能件。

5.如权利要求4所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述第一修复功能件通过连接臂与所述直线运动部连接,所述第一修复功能件与所述连接臂转动连接,所述...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷检测设备,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括:

3.如权利要求2所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括:

4.如权利要求3所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述修复组件包括第一修复功能件和第二修复功能件,所述第一修复功能件、所述第二修复功能件位于所述光学检测组件沿所述第二横向的相对两侧,所述第一修复功能件、所述第二修复功能件中的至少一者为焊接功能件。

5.如权利要求4所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述第一修复功能件通过连接臂与所述直线运动部连接,所述第一修复功能件与所述连接臂转动连接,所述连接臂与所述直线运动部转动连接。

6.如权利要求4所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述第二修复功能件通过夹持件与所述直线运动部连接,所述夹持件与所述直线运动部连接,所述夹持件能够夹持连接所述第二修复功能件的不同位置。

7.如权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,所述承接平台设有电连接接口,所述电连接接口能够与所述承载平台上承载的所述基板电连接,以向所述基板供电。

8.如权利要求1所述的缺陷检测设备,其特征在于,还包括:

9.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:王中达彭信瀚招茂森黄柏源王国安林楚伟易授勇
申请(专利权)人:海目星激光科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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