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本发明属于集成电路技术领域，具体涉及一种基于ＬＵＴ（查找表）结构的ＦＰＧＡ（现场可编程门阵列）器件的ＣＬＢ（可编程逻辑单元）的遍历测试方法。包括：对ＬＵＴ的单点故障的遍历测试，对ＬＵＴ的多点故障的测试，对分布式ＲＡＭ的遍历测试，对触发器的赋...
该专利属于复旦大学所有，仅供学习研究参考，未经过复旦大学授权不得商用。

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