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本发明提供一种芯片电路及其测试方法，芯片电路包括：至少两个子模块及至少两个输入级流水线模块；各子模块通过馈通连接方式进行信号输入和信号输出，其中，各子模块组成的馈通链路上，输入级子模块的各输入端口经过不同输入级流水线模块连接至芯片电路的同一...
该专利属于上海合芯数字科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海合芯数字科技有限公司授权不得商用。

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