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本申请公开了一种单晶硅放肩开叉的检测方法及装置，所述方法包括：获得单晶硅放肩过程中的待测图像；对所述待测图像中单晶硅的至少部分边缘进行圆拟合，以得到所述单晶硅对应的圆形边缘；根据所述圆形边缘，获得所述待测图像中所述单晶硅的肩口凸出边缘；根据...
该专利属于保定景欣电气有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过保定景欣电气有限公司授权不得商用。

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