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本申请提供一种芯片IO电气特性自动化测试装置、方法及计算机存储介质，涉及芯片测试技术领域，芯片IO电气特性自动化测试装置包括：控制模块、高电平输出测试模块、低电平输出测试模块、输入测试模块和第一多路复用开关；所述控制模块通过多个不同引脚分别...
该专利属于杭州鸿钧微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州鸿钧微电子科技有限公司授权不得商用。

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