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本申请涉及用于校准半导体装置的阻抗的基于定时的仲裁方法和设备。实例系统包含电阻器和多个芯片。所述多个芯片中的每一个进一步包含耦合到所述电阻器的端子以及校准电路。所述校准电路至少部分地基于对于所述多个芯片中的对应的芯片唯一的定时信息确定所述电...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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