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本发明公开了一种基于协同注意力的芯片管壳缺陷检测方法，涉及基于深度学习的单图像缺陷检测技术领域。本发明其芯片管壳缺陷检测方法包括制作并处理图像样本数据集；构建协同注意力神经网络；利用所述图像样本数据集训练并调试所述协同注意力的神经网络；获取...该专利属于上海微电机研究所（中国电子科技集团公司第二十一研究所）所有，仅供学习研究参考，未经过上海微电机研究所（中国电子科技集团公司第二十一研究所）授权不得商用。