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本发明涉及一种联合单波峰和多波峰足印的星载激光测高仪在轨检校方法，方法包括利用波形匹配对多波峰足印参考位置进行求取，根据参考地形数据对单波峰的足印位置进行迭代计算，再提出利用单、多波峰足印数据共同解算检校参数的解算模型，使得测距检校参数由单...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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