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本申请提出一种用于检测光学器件脱落破裂的封装结构及其检测方法，包括光学器件、陶瓷基板和两个检测块；两个检测块间隔设置在陶瓷基板的上端面处，且两个检测块包围的空间为限位空间；陶瓷基板的上端面处设置有激光发射器，激光发射器位于限位空间内；光学器...
该专利属于昆山丘钛微电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山丘钛微电子科技股份有限公司授权不得商用。

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