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本发明公开了一种基于离散几何映射的等几何分析参数化迁移方法，该方法首先对给定的特征约束进行分类。其次根据分类结果，若无法直接移动约束所在面片的边界生成高质量的参数化，则分割约束所在面片为多个子面片，使得约束位于新的子面片的边界。然后进行径向...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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