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本技术在电子测试领域，为能够在测试过程当中减少转动板松动导致接触不良的情况，提高测试平稳性，公开一种芯片测试装置，包括：基座；转动板，与基座转动连接，转动板能够相对于基座沿前后方向的轴线转动；卡持件，与转动板可移动连接；第二弹性件，连接卡持...
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