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本发明属于器件缺陷检测领域，具体涉及一种数码管芯片溢胶缺陷识别方法，包括：在传送带运动状态下使用多个相机分别拍摄传送带上数码管芯片的各个面；将得到的图片进行数据增强和光照均衡处理；构建数码管芯片缺陷检测模型，通过光照均衡处理后的图片对数码管...
该专利属于重庆邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过重庆邮电大学授权不得商用。

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