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本发明涉及集成电路制作技术领域，具体涉及一种插入冗余通孔优化方法、设备以及储存介质，一种插入冗余通孔优化方法，包括以下步骤：提供一物理设计工具，分别使用不同种类的冗余通孔对典型物理设计结果进行插入，针对每种冗余通孔得到对应的第一物理设计结果...
该专利属于华芯巨数（杭州）微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华芯巨数（杭州）微电子有限公司授权不得商用。

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