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本申请公开了一种校准参数读取方法、校准参数写入方法、校准参数读取装置、校准参数写入装置及电子设备，属于校准参数读写技术领域，其中，校准参数读取方法应用于上位机，以读取非易失性存储器中校准参数，非易失性存储器包括主存储区和备存储区，读取方法包...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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