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本发明提供一种芯片输入输出端口间的连线检查方法，包括：S1：获取待检测芯片的输入信号集合，获取各输入信号对应的输出信号，获得输出信号集合；S2：将输出信号集合中对应同一个输入信号的多个输出信号进行合并，获得合并后的输出信号集合；S3：将输入...
该专利属于中国地质大学（武汉）所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质大学（武汉）授权不得商用。

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