【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片设计领域，尤其涉及一种芯片输入输出端口间的连线检查方法及系统。
技术介绍
1、随着半导体工艺技术的不断进步，芯片的设计规模越来越大，如今已经可以达到在一个芯片上实现几亿个晶体管的设计规模。这样规模的电路可以将一个完整的电路系统在一个单个的芯片上实现。系统芯片(soc)把多种功能的模块集中到一个芯片上。这种芯片可能包括了cpu、dsp、i2c、uart、逻辑电路、模拟电路、射频电路等其他模块，它们相互连接构成完整的系统。在进行芯片设计时，往往要进行电路各模块之间的连接。有时候连线比较多或者连线较为复杂时，比如输入信号x可能要从当前模块的底层穿过当前模块的顶层再和另外模块相连接。有时候一个输入要连向许多个输出端口。当连线数变多，情况变得复杂的时候，我们的连线就容易出现错误。而一旦由于连线出现错误导致后面流片失败的话，造成的损失是巨大的，动则成百上千万的经济损失。所以保证连线的完全正确是非常有必要也非常有意义的一件事情。现有的连线检查方法一般是给输入端口灌信号，然后观察整体或者某个模块的功能能否正常实现。但是这种方法并不能完...
【技术保护点】
1.一种芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，输入信号与输出信号的连线之间无逻辑单元，且输入信号与对应输出信号的位数相等；
3.根据权利要求1所述的芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，步骤S2具体为：
4.根据权利要求1所述的芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，步骤S3具体为：
5.根据权利要求1所述的芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，步骤S4具体为：
6.一种芯片输入输出端口间的连线检查系统...
【技术特征摘要】
1.一种芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征在于，输入信号与输出信号的连线之间无逻辑单元，且输入信号与对应输出信号的位数相等；
3.根据权利要求1所述的芯片输入输出端口间的连线检查方法，其特征...
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