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本技术涉及功率器件高压测试技术，公开了一种高压KGD测试夹具及测试装置，其包括夹具基板(1)，其夹具基板(1)上设有凹槽单元(2)，凹槽单元(2)连接有功率器件芯片凸台单元(4)，功率器件芯片凸台单元(4)上设有真空吸附单元(3)，功率器件...该专利属于派恩杰半导体（杭州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过派恩杰半导体（杭州）有限公司授权不得商用。
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